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          X射线无损测厚仪在性能上有哪些优势?
          点击次数:162 发布时间:2022-02-18
            X射线无损测厚仪是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光光谱仪,使用大铍窗超薄窗口高分辨率的SDD探测器,其探测器分辨率为139eV,处于先进水平;产品采用上照式设计,多重防辐射保护装置以及X射线发生器,使辐射剂量符合国际规定;样品观察系统采用CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位以及自主研发的专用测厚分析软件,各项指标均符合相关技术要求,技术达先进水平。
           
            该款仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、首饰手表、检测机构等行业量身打造的仪器。XYZ三个可调节方向、全面的样品观察系统和激光定位使得检测更方便。超大的测试内部空间,良好的散热效果和抗电磁干扰能力,模块化的结构设计使安装、调试、维护更方便,可适应恶劣工作环境。
           
            应用行业:
            1、电子半导体行业接插件和触点的厚度测量;
            2、印刷线路板行业功能镀层厚度测量;
            3、贵金属首饰手表行业镀层厚度测量;
            4、五金电镀行业各种防腐性、装饰性及功能镀层厚度测量。
           
            性能优势:
            1、精密的三维移动平台;
            2、轻松实现深槽样品的检测;
            3、四种微孔聚焦准直器,自动切换;
            4、双重保护措施,实现无缝防撞;
            5、采用大面积高分辨率探测器,降低检出限,提高测试精度。
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          联系人:樊先生
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